插回損測試中的免纏繞是什么意思？

光傳輸系統中，當入射光傳輸至光器件時，入射光總有部分光被光器件反射回來。其中后向反射光功率與入射光功率的比值就是反射損耗。后向反射光會對光源的工作帶來不利的影響，因此光器件的反射損耗測試就成為必須。

常用的光回波損耗測試方法包括OCWR光連續波反射測試和OTDR光時域反射測試。這兩種方法都是IEC61300-3-6建議的方法。前者適合測試小于等于-55dB的反射損耗，但是使用中需要纏繞等辦法消除光纖等的反射。后者則可以免纏繞，支持更高測試范圍。

如圖所示，OCWR法不能區別光纖中的瑞利散射和光器件本身的菲涅爾反射，在多數情況下使用不超過1.5米的測試光纖，一般極限測量值是-70dB。而OTDR法則相比優勢明顯，不僅可以區別瑞利散射和菲涅爾反射，而且可以讓用戶自己選擇測量某個接頭的回波損耗，可以消除測試引入纖的影響，測量范圍最大可以到80dB。

不同于OTDR，使用OCWR方法測試，須對光纖尾端進行去反射處理，包括將光纖尾端加工成APC端面，或者采用折射率匹配液，還有就是可以對光纖進行纏繞（纏繞位置應該在標準跳線SJ2靠近標準連接器10cm處），直到回波損耗穩定不變為止（不適合多模光纖，多模光纖需要增加消除高階模的裝置）。